Select Language  English Chinese
产品中心 | 品牌导航 | 特价仪器 | 新到仪器 | 资料手册
 

产品分类

 
  • 光纤通信测试仪器(二手)
  • 通用仪器(二手)
  • 其它仪器(二手)
  • 无线通讯测试仪器(二手)
  • 射频与微波仪器(二手)
  • 环境实验设备
  • 通用测试仪器(全新)
  • 传输设备
  •     路由器
        交换机
  • 仪器设备维修专区
  • EMC测试设备
  •    
    当前位置:其它仪器(二手) > 半导体参数分析仪 > 半导体参数分析仪

    Keysight/4155C/半导体参数分析仪

    • Keysight/4155C/半导体参数分析仪
    • 欲购买或租赁Keysight/4155C/半导体参数分析仪?请在线咨询或拔打24小时电话:13715327187
    半导体参数分析仪/Keysight缩略图

    详细资料:

    4155C 半导体参数分析仪

    4155c半导体测试仪是Agilent下一代精密半导体测试仪。4155c是描述高级器件的低成本、实验室级的参数测试仪。4155c低的电流、电压精度和内置的准静态CV测量能力提供了未来扩展的基础。41501B可扩展测量能力到1A/200V,还可以在4155c上增加低的噪声双脉冲发生器。
    4155c提供了基于PC的参数分析和表征全套方案的环境。标准配置包括一个参数分析仪,Agilent I/CV 3.0 Lite 自动测试软件,运行Windows XP 操作系统的PCI/CV 3.0 Lite 提供一个图形用户界面,具有强大的分析工具,探针驱动和自动测试工具。

    特性

    · 4155c提供4个内置的源/监控单元(MPSMUs),两个电压源单元(VSUs)和两个电压监控单元( VMUs)
    · 10 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新的工艺技术和评价材料
    · Performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements
    · 完成准静态的电容对电压测量
    · 自动提取程序参数而不需要人工操作屏幕光标
    · 用超低的SMUs测量泄漏特性。
    · 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征。
    · 用内置的应力测量模式完成晶片的可靠性测试
    · 用图形用户界面实现“点击”测试
    · Windows环境提供图形数据分析能力
    · 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。
    · 待机模式消除外部电源的需要
    · 触发模式可以同步AC/DC测试
    · IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。
     

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

    仪器高级查询

    全部 现货
     

    品牌推荐

     
    点击查看惠普(安捷伦)相关仪器 点击查看泰克相关仪器 点击查看安立相关仪器 点击查看爱得万相关仪器 点击查看安腾相关仪器 点击查看力科相关仪器 点击查看马可尼(IFR)相关仪器 点击查看罗德与施瓦茨相关仪器 点击查看福禄克相关仪器 点击查看吉时利相关仪器  
       
    Copyright© 2007 All Rights Reserved. 深圳市嘉惠捷科技有限公司 版权所有 [粤ICP备07503992号] [法律顾问]
    公司地址:深圳市南山区西丽牛成路221号8楼   邮编:518000
    在线QQ服务: 服务热线:13715327187  电话:0755-86641139  传真:0755-86641139
    E-mail:sales@test-e.com
     
    分享到: