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    Keysight/4156C /精密半导体参数分析仪

    • Keysight/4156C /精密半导体参数分析仪
    • 欲购买或租赁Keysight/4156C /精密半导体参数分析仪?请在线咨询或拔打24小时电话:13715327187
    精密半导体参数分析仪/Keysight缩略图

    详细资料:

    4156C 精密半导体参数分析仪

    4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪,4156C为高级器件表征提供了高精度顶级参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力,4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V,并给4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
    4156C是基于PC的参数分析和表征的解决方案,标准配置包括一个参数分析仪,Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件, Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面,具有强大的分析工具,探针台驱动,和自动测试工具。

    特性

    · 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元(HPSMUs),两个电压源单元(VSUs)和两个电压监控单元(VMUs)
    · 1 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料
    · 全Kelvin,每个HRSMU有激励源、感应和接地端
    · 完成准静态的电容对电压测试
    · 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标
    · 用极低泄漏的SMUs测量特有泄露特性
    · 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征
    · 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试
    · 用图形用户界面完成“点击”测试
    · 基于Windows环境的图形数据分析能力
    · 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常
    · 待机模式不需要外部电源
    · 触发模式可以同步AC/DC测试。
    · IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。

    仪器保证:

    我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。

    仪器高级查询

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